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面議型號
XploRA Nano品牌
HORIBA產地
法國樣本
暫無誤差率：
-分辨率：
1cm-1重現性：
<0.1cm-1儀器原理：
動態(tài)色譜法分散方式：
-測量時間：
-測量范圍：
50-9000cm-1看了HORIBA 原子力-拉曼聯(lián)用系統(tǒng)XploRA Nano的用戶又看了
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詳細信息：
將AFM的納米量級高空間分辨率和拉曼指紋光譜技術耦合起來，實現高空間分辨率下物理特性、化學結構測試。
產品特點：
● AFM和拉曼同區(qū)域成像
● 針尖增強拉曼（TERS)
● AFM光杠桿反饋激光自動準直
● 可同時提供上方、側向耦合光路，均可使用X100高NA物鏡以提高收集效率
● 高頻掃描頭，對環(huán)境噪聲不敏感
AFM-拉曼耦聯(lián)配置
HORIBA Scientific拉曼技術可與掃描探針顯微鏡（SPM）進行耦合，構建一個功能強大且靈活的AFM-拉曼平臺。研究人員可根據期望的AFM-拉曼工作模式來選擇合適的儀器。
所有具備激光掃描技術的配置都可以通過對掃描探針上的激光反射進行快速成像或者根據針尖增強拉曼散射信號對熱點進行成像，因而該配置能夠準確、可靠地將激光定位到SPM探針針尖上。
高通量的光信號收集和檢測硬件保證在快速掃描的同時采集每一點的SPM信號和拉曼光譜。
將您的所有需求集成到一個強大的系統(tǒng)中
我們所提供的**解決方案使用直接光路耦合，對其進行優(yōu)化以實現高通量。該平臺可以把原子力顯微鏡（AFM）、近場光學技術（SNOM,NSOM）、掃描隧道顯微鏡（STM）和共焦光學光譜儀（拉曼和熒光成像）耦合到一臺多功能的儀器中，以實現針尖增強拉曼散射（TERS）或共點測量。
結合納米成像和化學分析
單層、雙層和三層石墨烯的共點AFM和拉曼成像
● AFM和其他SPM技術可提供分子級別分辨率下的形貌、力學、熱能、電磁場和近場光學特性。
● 共焦拉曼光譜和成像可提供納米材料在亞微米空間分辨率下的詳細化學信息。
● 同步測量的獨特平臺，有助于您獲得可靠且位置高度重合的圖像。
● 結合高性能和易用性，HORIBA將會根據您所選擇的SPM制造商提供一個可靠、全功能的解決方案
● 針尖增強拉曼光譜(TERS)的光學、機械和軟件都是經過優(yōu)化設計的，同時有HORIBA在拉曼光譜幾十年的經驗做技術支持，您可以自信地使用這一技術。
一個工具多種可能：AFM-拉曼有助于您提高效率
● 快速找到納米對象
由于納米材料具有特殊的化學屬性，拉曼峰信號較強，因此在光學顯微鏡下不可見的納米材料可以通過超快速拉曼成像進行搜索和定位。在找到樣品后，我們可以對感興趣的位置進行形貌、機械、電學和熱能分析。
● 交叉驗證您的數據
拉曼光譜可以證實材料的某些特性，例如前面研究的石墨烯，AFM形貌的對比度較差而難以確定層厚，拉曼則可以從另外一個角度去獲得相同的信息，此外拉曼還提供更多有關結構和缺陷的信息，此信息只有具備原子分辨率的AFM才能提供。
● 獲得感興趣納米結構的化學信息
在表征納米結構時，有時僅獲得物理性質是不夠的。高分辨的拉曼共焦成像可提供詳細的化學成分信息，這是其他SPM傳感器無法實現的。
● 探索TERS（針尖增強拉曼散射）領域
TERS（或納米拉曼）可以綜合兩種技術之優(yōu)勢：可獲得空間分辨率低至2nm（一般低至10nm）的化學特異性拉曼光譜成像。該技術可用于表征從納米管到DNA等各種樣品。
多種光學配置HORIBA的AFM-拉曼平臺支持多種光學方案：
| 底部耦聯(lián)：針對透明樣品 頂部耦聯(lián)：針對共點拉曼或傾斜針尖的TERS 側向耦聯(lián)：測定不透明樣品的TERS的優(yōu)解決方案 可提供多端口和并排配置 |
注：具體配置、價格請咨詢當地銷售工程師
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