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        全反射X射線熒光光譜儀(TXRF)S4 TStar
        全反射X射線熒光光譜儀(TXRF)S4 TStar

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        德國(guó)

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        暫無(wú)
        鉑悅儀器(上海)有限公司

        會(huì)員

        |

        第2年

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        S4 TStar — TXRF的明星 數(shù)十年來(lái),X 射線熒光(XRF)光譜法在多個(gè)行業(yè)中被廣泛用于對(duì)固體和石油化工樣品進(jìn)行元素分析,檢測(cè)限值低于PPb 量級(jí)。TXRF 擴(kuò)展了XRF 的應(yīng)用范圍,可以分析液體樣品、懸浮液和膜片中的超微量元素。因此,TXRF 成為原子吸收光譜法(AAS)以及電感耦合等離子體發(fā)射光譜法(ICP-OES)或質(zhì)譜法(ICP-MS)的理想的替代性方法。現(xiàn)在,S4 TStar 在臺(tái)式TXRF 光譜儀的性能、自控和質(zhì)量方面開(kāi)創(chuàng)了新的標(biāo)準(zhǔn)。

        優(yōu)異的樣品通用性S4 TStar 是一種通用性很強(qiáng)的工具,可以分析不同反射載體上的多種類(lèi)型的樣品。它的樣品通用性?xún)?yōu)于ICP。

        ICP 只能分析完全溶解的液體樣品。

        圖一:30 毫米石英片:對(duì)液體、固體和懸浮液進(jìn)行元素分析

        圖二:2 英寸晶片:污染分析、深度剖析和材料科學(xué)研究

        圖三:顯微鏡載玻片:臨床和生物學(xué)樣品,直接分析細(xì)胞培養(yǎng)物、涂片和切片

        圖四:矩形載體:尺寸小于54 毫米,用于膜片、濾片、納米顆粒層

        定制的反射介質(zhì)

        行業(yè)應(yīng)用:

        · 藥品

        檢測(cè)活性藥物成分中的催化元素:液體或丸粒中的鉛含量小于0.1 / 0.5ppm

        · 食品

        糧農(nóng)組織和世衛(wèi)組織的食品*標(biāo)準(zhǔn):大米中的砷含量小于10 / 40ppb。

        · 環(huán)境監(jiān)測(cè)

        環(huán)境監(jiān)測(cè):地表水,廢水、污泥和核廢液中的污染物含量小于1 / 10ppb。

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        10分

        易用性

        10分

        性?xún)r(jià)比

        10分
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