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ZetaAPS電位分析儀

產(chǎn)品介紹：

美國MAS納米粒度及Zeta電位分析儀，可以測試：粒徑、Zeta電位、滴定、電導等。

此儀器容易使用、測量精確。對于高達60%（體積）濃度的樣品，也無需進行稀釋或樣品前處理，即可直接測量甚至對于漿糊凝膠、水泥以及用其它儀器很難測量的材料都可直接進行測量。

典型應用：

綜合穩(wěn)定水泥漿，陶瓷，化學機械研磨，煤漿，涂料，化妝品，環(huán)境保護禪選法礦物富集，食品工業(yè)，乳膠，微乳，混合分散體系，納米粉，無水體系，油漆成像材料。

主要特點：

1）能分析多種分散物的混合體；

2）無需依賴Double Layer模式，精確地判定等電點；

3）可適用于高導電(highly conducting)體系；

4）可排除雜質及對樣品污染的干擾；

5）可精確測量無水體系；

6）Zeta電位測試采用多頻電聲測量技術，無需先測量粒度即可進行電位測量；

7）樣品的高濃度可達60%(體積比)，被測樣品無需稀釋，對濃縮膠體和乳膠可進行直接測量；

8）具有自動電位滴定功能；

ZetaAPS電位分析儀

優(yōu)于光學方法的技術優(yōu)勢：

1)被測樣品無需稀釋；

2)排除雜質及對樣品污染的干擾；

3)不需定標；

4)能分析多種分散物的混合體；

5)高精度；

6)所檢側粒徑范圍款從5 nm至1000um

優(yōu)于electroactics方法的技術優(yōu)勢：

1)無需定標；

2)能測更寬的粒徑范圍；

3)無需依賴Double Layer模式

4)無需依賴( electric surface properties)電表面特牲；

5)零表面電荷條件下也可測量粒徑；

6)可適用于無水體系；

7)可適用于高導電(highly conducting)體系；

優(yōu)于微電泳方法的技術優(yōu)勢：

1)無需稀釋，固合量高達60%；

2)可排除雜質及對樣品污染的干擾；

3)高精度(±0.1mv)；

4)低表面電荷(可低至0. 1mv)；

5)electrosmotic flow不影響測量；

6)對流(convection)不影響測量；

7)可精確測量無水體系；

ZetaAPS電位分析儀

技術參數(shù)：

1)所檢測粒徑范圍寬：從5 nm至1000um；

2)可測量參數(shù)：粒度分布、固含量、Zeta電位、等電點IEP、E5A、電導率、PH、溫度、聲衰減；

3)Zeta電位測量范圍：+/-200 mv，低表面電荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv);

4)零表面電荷條件下也可測量粒徑；

5)允許樣品濃度：0.1-60%(體積百分數(shù))；

6)樣品體積：30-230ml；

7)PH范圍：0~14;

8)電導率范圍：0~10 s/m

ZetaAPS電位分析儀