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電子器件高低溫沖擊試驗箱是一樣的意思，針對的是同一類同一標(biāo)準(zhǔn)的試驗箱，此類試驗箱是提供給電子器件在瞬間下經(jīng)極高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度，得以在*短時間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。本試驗箱不僅適合電子器件使用，還是光電、金屬、塑料、LED、橡膠、電子等工業(yè)材料行業(yè)必備的試驗設(shè)備，結(jié)構(gòu)分為兩箱式和三箱式，區(qū)別在于試驗方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同，產(chǎn)品符合標(biāo)準(zhǔn)為：GB-T10592-2008、GB/T2423.2-2008試驗B、GB/T2423.1-2008試驗A 、GJB150.3-198、GJB360A-96方法107溫度沖擊試驗的要求。
電子器件高低溫沖擊試驗箱技術(shù)參數(shù):
暫無數(shù)據(jù)！
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