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產(chǎn)品型號

TEM-APT Holder電鏡連用三維原子探針樣品桿

主要特點(diǎn)

1）TEM-APT樣品桿：三維原子探針（3DAP）和透射電鏡（TEM）是先進(jìn)的原子尺度表征手段。

2）三維原子探針的結(jié)果不是“可視”的，需要通過數(shù)據(jù)重構(gòu)再現(xiàn)。透射電鏡能提供“直接可視”的實(shí)驗(yàn)結(jié)果，但是結(jié)果是二維投影的，并且很難獲得三維的單個(gè)原子尺度的成分信息?；谒鼈兏髯缘膬?yōu)勢，我們開發(fā)了3DAP-TEM樣品桿，可以將原子探針（APT）試樣直接加載到TEM樣品桿上。

產(chǎn)品結(jié)構(gòu)

產(chǎn)品作用

（1）在TEM中直接觀察APT試樣上是否有令人感興趣的區(qū)域，使樣品檢測工作效率增加；

（2）通過大角度傾轉(zhuǎn)試樣，獲得不同角度試樣的形貌結(jié)構(gòu)特征，為3DAP數(shù)據(jù)重構(gòu)提供幫助；

（3）TEM觀察過后的試樣可以直接移到APT中繼續(xù)實(shí)驗(yàn)。將APT結(jié)果與TEM圖像相結(jié)合，有 助于優(yōu)化重構(gòu)參數(shù)，并使3DAP結(jié)果更具有可信度。

（4）在原子水平上獲得了樣品的組成和結(jié)構(gòu)。

產(chǎn)品性能

（1）接受錐形電化學(xué)拋光的樣品或聚焦離子束（FIB）制備的樣品柱。

（2）允許360°的圖像采集和層析圖像的重建，不會(huì)因楔子缺失而造成信息損失。

（3）樣品可以很容易地從支架上取出，然后直接轉(zhuǎn)移到APT機(jī)上進(jìn)行進(jìn)一步表征。

（4）兼容所有幾何形狀的極片間隙。