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        SOC710SW短波紅外高光譜成像儀
        SOC710SW短波紅外高光譜成像儀

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        北京安洲科技有限公司

        會員

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        SOC710 SWIR短波紅外光譜成像儀是原型SOC720的升級版,更輕便、快捷、精確;是一款高質量、高性能的科研級高光譜成像儀,光譜范900~1700nm具有**的高光譜分辨(2.75nm), 成像分光計和高靈敏度的制冷InGaAs陣列檢測器,使SOC710 SWIR能夠16bit的數(shù)字分辨率同時收640*568像素、288個波段的高光譜信息。其**的性能及成像質量,在同類產(chǎn)品中無出其右。

        SOC公司40余年光譜成像研發(fā)經(jīng)驗,具有多項高光譜成像領域**。SOC與美NASA及國防部長期合作,并參與了多款太空望遠鏡的光學模塊研發(fā)工作。

        SOC710 SWIR為一體式設計,集成度高,開箱之后即可使用;具備內(nèi)置平移推掃裝置,不需另配掃描臺,即可任意方向或直接垂直向下掃描;掃描速度與積分時間自動匹配。獨特的內(nèi)置掃描和CCD設計,可以直接預覽待測區(qū)域圖像,內(nèi)置平移式平移推掃設計成功地解決了外置掃描方式無法避免的圖像畸變問題。真正的所見即所得!自動暗電流,自動匹配積分時間,預覽圖像自動提示曝光飽和,自動存儲;可按預設的測量間隔長期無人值守全自動監(jiān)測。系統(tǒng)采SOCHyperScanner操作軟件SRAnal710校準和分析工具進行標定和數(shù)據(jù)處理。SOC處理器以**的測量速度快速獲取光譜數(shù)據(jù),數(shù)據(jù)以開放BIL二進制格式保存,可以兼ENVI等第三方數(shù)據(jù)分析軟件,適應多種研究應用。嚴NIST可溯源校準,數(shù)據(jù)準確可靠。

        農(nóng)業(yè)領域

        -精準農(nóng)業(yè)

        -土地分類

        -水分脅迫

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        -晶片檢查

        -食品藥品

        -化學過程控制

        技術參數(shù):

        SOC710 SWIR短波紅外光譜成像

        光譜范圍

        900~1700 nm

        光譜分辨率

        2.75 nm

        光譜波段數(shù)

        288

        數(shù)字光圈

        F/2.0

        鏡頭焦距

        8mm、12.5mm、16mm25mm、35mm50mm可選

        掃描速度

        60~120/

        測量速度

        ~10/Cube

        數(shù)字分辨率

        14 bit

        像素

        640x568

        掃描方式

        內(nèi)置平移推掃

        數(shù)據(jù)接口

        USB

        供電

        DC12V / AC220V

        產(chǎn)地:美國

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        售后服務

        10分

        易用性

        10分

        性價比

        10分
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        SOC710SW短波紅外高光譜成像儀信息由北京安洲科技有限公司為您提供,如您想了解更多關于SOC710SW短波紅外高光譜成像儀報價、型號、參數(shù)等信息,歡迎來電或留言咨詢。
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