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顆粒大小與形狀分析儀 Morphious V1

Morphious V1 （MP-V1）顆粒與形狀分布檢測系統(tǒng)是****的實時檢測顆粒形態(tài)的儀器

系統(tǒng)采用一個料斗將被測試的樣品歸集到測試振動臺上，以便將這些小顆粒分散并做自由落體運(yùn)動。當(dāng)它們做自由落體時，使用CCD攝像機(jī)捕捉這些小顆粒的細(xì)節(jié)（形態(tài)測量）。

結(jié)合專業(yè)的分析軟件將品控的質(zhì)量關(guān)鍵點 Critical to Quality(CTQ)參數(shù)展示在操作員面前。用戶可自行定義各種各樣的標(biāo)準(zhǔn)，用以區(qū)分特殊定義的顆粒特性。系統(tǒng)可運(yùn)行檢測的吞吐量大約為50Kg/h。這意味著將有大量的數(shù)據(jù)需要運(yùn)算分析處理。數(shù)據(jù)將被存貯在特定的數(shù)據(jù)庫中，且易于被調(diào)用和檢索。用戶可定義各種各樣的相關(guān)參數(shù)處方，用以對相應(yīng)的產(chǎn)品進(jìn)行質(zhì)量控制。系統(tǒng)可提供無限的圖形化可能性來表征顆粒的質(zhì)量。

檢測到各種瑕疵，它們的分布和數(shù)量可以通過一張二維正態(tài)分布圖展現(xiàn)。這個處理過程有助于將各種不同缺陷分類呈現(xiàn)出來（如外形凸起的，聚集在一起的，含有污物的，片狀的，碎片狀的，破損的），如造粒工序中遇到的情況（如顆粒相互粘連，兩粒合并，三粒合并等）擠出熔體不佳情況（如魚紋，細(xì)粉等），部分降溫過程中出現(xiàn)的空洞（如面條狀，空心狀，狗骨頭狀，細(xì)末，細(xì)粉等。如下圖中所列出的實例所示：）

分布圖顯示了顆粒的一致性狀況。相對于早起陳舊的篩選方法，它能展現(xiàn)更多的細(xì)節(jié)，以供生產(chǎn)者能直觀地進(jìn)行產(chǎn)品質(zhì)量控制，并快速建立起工藝改進(jìn)方案，改善顆粒的一致性。

運(yùn)行性能

采用模塊化結(jié)構(gòu)

可擴(kuò)展性，易于適配級升級

定制界面

Windows操作界面易于依據(jù)客戶定制

**的照明技術(shù)

采用特殊的照明技術(shù)，從而避免在顆粒檢測分析過程中出現(xiàn)的各種色差問題

實時圖像畫面

迅速地運(yùn)算評估，分析以及采用多種不同的格式反應(yīng)監(jiān)測結(jié)果：

以大小劃分的表格視圖，時間演化趨勢，Mosaic圖片，柱狀圖，分布圖等

表格視圖

依據(jù)形狀，大小、直徑，延伸率，圓度，粗糙度，以及/或凸面度來展現(xiàn)

Mosaic圖片視圖

連續(xù)不斷地顯示變化的實時圖片

展示圖形特點

展示依據(jù)大小、形狀等設(shè)定重新分布的圖形

時間演化 Time evolution

展示依據(jù)時間演化設(shè)定重新分布的圖形特征

同步處理

檢測系統(tǒng)和擴(kuò)展儀表相互聯(lián)通交換處理信息

外部擴(kuò)展應(yīng)用接口

報警接口，數(shù)字補(bǔ)償功能等

開放的數(shù)據(jù)庫

以協(xié)議化生成的數(shù)據(jù)可輕松便捷完整地轉(zhuǎn)化

為通用的數(shù)據(jù)格式（MS Access，Excel等）

技術(shù)資料

攝像機(jī)： CCD線性掃描傳感器4096 Pixel 160 MHz

光源： 具備白色光譜的高頻同步熒光燈 電源功率：32W

主機(jī)： 工控機(jī)Intel®Core™ 2 Duo，采用**的主流硬件配置

軟件： Windows XP 操作系統(tǒng)，定制圖像處理軟件

系統(tǒng)接口： Ethernet 10/100 M Base T，USB，RS 485，RS，232，數(shù)字&模擬1/0，F(xiàn)ieldbus

通信協(xié)議： MODBUS RTU，MODBUS TCP/IP，OPC，SQL，文件轉(zhuǎn)換（定制），可將PROFIBUS轉(zhuǎn)換為其他現(xiàn)場總線系統(tǒng)

遠(yuǎn)程控制： **擴(kuò)展100m，遠(yuǎn)程協(xié)助、維修診斷

尺寸大?。? 100×50×50cm(l，w，h)

處理量： Up to 50Kg/h

電源電壓： 230V AC/115V AC，50/60 Hz

運(yùn)行溫度： 10-40℃