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1.產(chǎn)品介紹：

VERTEX 80和VERTEX 80v真空FTIR光譜儀采用主動準直的 UltraScan™ 干涉儀，能夠為您帶來**的光譜分辨率。高精度的線性氣動軸承掃描儀以及優(yōu)質(zhì)光學元件為儀器的極限靈敏度和穩(wěn)定性提供了保證。VERTEX 80v采用真空光學臺，可消除大氣中的水分吸收，從而實現(xiàn)**的靈敏度和穩(wěn)定性，助力進行諸多高難度試驗，如高分辨率、超快速掃描、步進掃描或紫外光譜范圍測量。

得益于VERTEX 80/80v 的光學設(shè)計，系統(tǒng)不僅具備**的靈活性，還擁有**的性能。布魯克光學****的DigiTect™技術(shù)，有助于避免外部信號干擾，保證了儀器的**信噪比，這使得用戶可以輕松重復地自行更換檢測器。兩個可選的外接檢測器端口可安裝輻射熱測量計和/或熱電子檢測器的液氦杜瓦。與外接的水冷高功率Hg-arc光源相結(jié)合，即便是使用室溫DTGS檢測器，也能達到近期重新發(fā)現(xiàn)的太赫茲光譜范圍。

2.特點介紹

譜區(qū)擴展

VERTEX 80/80v可通過配備各種光學選件，來覆蓋從遠紅外或太赫茲開始，經(jīng)中紅外和近紅外、可見光到紫外光的光譜區(qū)域。其預準直光學元件以及主動準直UltraScan™ 干涉儀，使切換和維護變得十分簡單。

BMS-c:布魯克為VERTEX 80v真空光譜儀提供高精度分束器切換選件BMS-c。

您可以在真空條件下，通過遠程控制自動更換多達4種不同類型的分束器?，F(xiàn)在，您無需泄光譜儀真空打開光學臺來手動切換分束器，就能測量從紫外/可見光到遠紅外/太赫茲的完整光譜范圍。

全新附件：

布魯克為VERTEX 80/80v FTIR 系列光譜儀提供了全新的新型寬帶遠紅外/太赫茲分束器，拓展了分束器的選擇范圍。特別是在半導體和其它無機材料研究與開發(fā)應用中，由于全新的遠紅外固態(tài)分束器在單次測量中即可覆蓋從900 cm^-1 到 5 cm^-1左右的光譜范圍，并且能夠?qū)⒅屑t外與遠紅外/太赫茲波譜范圍連接起來，因此它還能帶來更多價值。

光學分辨率

標準配置下的 VERTEX 80 和VERTEX 80v光譜儀可以提供優(yōu)于0.2 cm^-1的切趾光譜分辨率，足以應對大多數(shù)常壓下氣相研究及室溫樣品測量。對于更高要求的低溫作業(yè)，如晶態(tài)半導體材料或低壓氣相測試，VERTEX 80/80V系列光譜儀可以提供優(yōu)于0.06cm^-1的**分辨率，這是商用臺式FTIR光譜儀所能達到的**分辨率。在可見光譜區(qū)，高分辨光譜能夠展現(xiàn)出優(yōu)于300000:1的分辨能力（定義為波數(shù)/光譜分辨率ν/?ν）。

多功能

創(chuàng)新的光學設(shè)計使靈活性和拓展能力**的研究級真空FTIR光譜儀成為可能。借助真空光學臺，該系統(tǒng)在中紅外、近紅外和遠紅外區(qū)域具有**的靈敏度，而不必擔心那些非常弱的光譜特征因空氣中的水蒸氣吸收而被掩蓋。VERTEX 80v 真空光譜儀能為您帶來**的成果，例如在低至 10^-3單層的納米科學研究領(lǐng)域。不僅如此，它的靈活性幾乎不受限制。光學臺的右側(cè)、前側(cè)和左側(cè)布有5個光束輸出端口，右側(cè)和后側(cè)有兩個光束輸入端口。因此，它可以同時進行連接：例如，后側(cè)輸入端口的同步輻射光源、右側(cè)輸出口的PMA50 偏振調(diào)制附件、右前側(cè)端口的光纖耦合模塊、左前側(cè)的輻射熱測量計探測器以及左側(cè)輸出端口的HYPERION 系列 FTIR 顯微鏡。

VERTEX 80系列是要求苛刻的研究與開發(fā)應用的理想儀器。

外接附件、光源和檢測器

VERTEX 80/80v光譜儀配備了5個光束出口和兩個光束入口，可連接外部激光器和同步輻射光源。此外，借助外部測量附件、光源和檢測器，您可輕松升級光譜儀的光學系統(tǒng)。包括如下內(nèi)容：

•用于VCD和PM-IRRAS的PMA 50偏振調(diào)制附件

•PL II 光致發(fā)光模塊

•RAM II FT-拉曼模塊和RamanScope III FT-拉曼顯微鏡

•TGA-FT-IR 聯(lián)用

•HYPERION 系列 FTIR 顯微鏡

•HYPERION 3000 FTIR 成像系統(tǒng)

•HTS-XT 高通量篩選eXTension

•IMAC 焦平面陣列宏觀成像附件

•外部樣品室XSA（真空或吹掃）

•外部真空密閉的超高真空腔室(UHV)

•真空PL/PT/PR測量單元

•低溫液氦或無低溫液體恒溫器

•帶中紅外或近紅外光纖探頭的光纖耦合單元（用于固體和液體）

•大型積分球

•自動進樣器

•外部遠紅外Hg燈光源

•****的寬帶中紅外-遠紅外檢測器

•固態(tài)遠紅外/太赫茲分束器

•外部發(fā)射適配器

•外部高性能中紅外光源

•外部高性能可見光源

•外部真空4位檢測器腔（用于真空光學系統(tǒng)）

•適用于遠紅外光譜范圍檢測的輻射熱測量計

•自動分束器切換單元（BMS-c）（真空光學系統(tǒng)）

3.應用介紹

VERTEX 80和VERTEX 80v光譜儀是VERTEX系列的高端研究級儀器。其獨具創(chuàng)新的光學設(shè)計使得極為強大的臺式吹掃和真空光譜儀成為可能。它們能夠提供從紫外/可見光（50000 cm^-1）到遠紅外/太赫茲（5 cm^-1）的廣泛光譜范圍、極高的光譜和時間分辨率以及**的靈活性。多功能VERTEX 80/80v 系統(tǒng)能夠通過其頂尖的技術(shù)，為所有高端研究應用提供**的解決方案。

研究與開發(fā)

•用于幅度/相位調(diào)制光譜的連續(xù)和步進掃描技術(shù)

•用于高時間分辨率實驗的快速、交叉和步進掃描技術(shù)（步進掃描 / 快速掃描 / 交叉掃描時間分辨光譜）

•對周期性有序微觀材料（即超材料）進行表征

•用于氣體分析分辨率優(yōu)于0.06 cm-1的高分辨率光譜

•用于真空紅外光束裝置的系統(tǒng)化

•酶催化實驗的停流方法

•外接超高真空測量腔室

•用于電極表面和電解質(zhì)原位研究的FTIR 光譜電化學

制藥

•測定分子的**構(gòu)型 (VCD)

•通過熱分析對藥物產(chǎn)品的穩(wěn)定性和揮發(fā)物含量進行表征 (TGA-FTIR)

•遠紅外譜區(qū)區(qū)分活性藥物成分多晶型

聚合物和化學品

•遠紅外譜區(qū)識別聚合物復合材料中的無機填料

•聚合物動態(tài)和流變學研究

•測定揮發(fā)性化合物及表征熱分解過程 (TGA-FTIR)

•反應監(jiān)測和反應控制（中紅外光纖探頭）

•識別無機礦物質(zhì)和顏料

表面分析

•薄膜和單分子層檢測與表征

•結(jié)合偏振調(diào)制進行表面分析 (PM-IRRAS)

材料科學

•光學和高反射材料（光窗、反射鏡）的表征

•通過光聲光譜學（PAS）研究深色物質(zhì)和深度剖析

•材料的發(fā)射行為表征

半導體

•硅晶圓中氧和碳含量的測定

•淺能級雜質(zhì)的低溫透射和光致發(fā)光（PL）測量進行質(zhì)量控制