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508 PV™ 顯微鏡分光光譜儀設(shè)計用來給您的光學(xué)顯微鏡或探測臺增加先進的光譜學(xué)、彩色成像、薄膜厚度測量和色度學(xué)等功能。擁有前沿的光學(xué)、電子學(xué)和軟件等優(yōu)勢，它可以用來更新老舊的顯微分光計。

508 PV™附加到開放的圖像端口（photoport）上讓您能夠收集到纖顯微樣品的透射比、反光率、偏振甚至是熒光性和發(fā)冷光性能。它擁有CRAIC公司產(chǎn)品Lightblades™分光光度計的特點，可測量光譜的范圍是紫外光到近紅外光。您使用508PV™甚至可在不破壞的情況下迅速輕松地獲得次微米級樣品高質(zhì)量的光譜的圖像。

508 PV™ 顯微鏡分光光譜儀是一款理想的多用途儀器，例如用于平板顯示器像素點的色度學(xué)、鏡質(zhì)體煤塊和源巖的反射測定法，或者是光學(xué)器件和半導(dǎo)體的薄膜厚度測量。

主要特點

· 擁有 Lightblades™ 分光光度計的特點，專為顯微光譜學(xué)設(shè)計

· 用戶可選擇從深紫外光到近紅外光范圍的光譜

· 250至1000納米可用光譜范圍

· **調(diào)整，可變測量區(qū)域

· 熱電冷卻可用來改善信噪比和保持長時的穩(wěn)定性

· 分辨率高，*多可達5百萬像素，還帶有數(shù)字彩色成像......

· 擁有Lambdafire™分光計、成像控制和分析軟件。 Lambdafire™也包括觸屏控制。

· 透射比顯微光譜學(xué)

· 反射率顯微光譜學(xué)

· 偏振顯微光譜學(xué)

· 薄膜厚度測量

· 顯微樣品的色度學(xué)

· 用rIQ™包測量折射率

· 自動操作

· 對樣品溫度精確地控制

· 包括數(shù)據(jù)分析、光譜數(shù)據(jù)庫、圖像分析以及更多的專業(yè)軟件

· NIST可追蹤顯微分光計標(biāo)準(zhǔn)

· 使用及維護都很容易

· 出自顯微光譜學(xué)專家之手

紫外-可見-近紅外光譜

508 PV™結(jié)合了成像系統(tǒng)，設(shè)計用來附加到任何帶有圖像端口的顯微鏡上。它可以配置成工作范圍為深紫外光到可見光再到近紅外光如此寬廣的范圍，讓您的系統(tǒng)擁有測量如膜厚度和色度學(xué)等數(shù)據(jù)的新功能。508 PV™帶有 Lightblades™科技的特點，甚至允許您測量微米級樣品的透射比、反射率、偏振和熒光光譜。

熒光性

The 508 PV™ 甚至可以裝配用來測量微米級樣品的熒光性和冷光光譜學(xué)性能。因為508 PV™帶有 Lightblades™科技的特點，也有測量從紫外光到近紅外光的熒光性和冷光性能，所以它是顯材料科學(xué)、生物學(xué)、地質(zhì)學(xué)等顯微熒光測定的強大工具。

偏振

偏振顯微光譜學(xué)

經(jīng)過裝配， 508 PV™可以獲得顯微樣品的偏振光譜的圖像。它帶有科技的特點，它的偏振顯微光譜學(xué)能力讓您能夠快速輕松地獲取雙折射以及其他類型樣品的光譜。

光譜表面映像

光譜表面映像由自動光譜分析軟硬件包和用顯微鏡立體分辨得到的樣品5D映像組成。樣品吸光度、透射比、反射率、釋放光譜和拉曼光譜的5D圖像可以生成。

成像和顯微鏡

高分辨率數(shù)字彩色成像

508 PV™分辨率高，復(fù)雜精細的軟件使它能夠數(shù)字彩色成像。它讓您能夠同時看見分光光度計入口光圈和樣品，這樣您就能夠輕松地測量樣品并獲得任何條件下的全尺寸彩色圖像。

508 PV™顯微鏡分光光度計可以裝配用來獲取從深紫外光到近紅外光范圍內(nèi)的光譜，它也可以附加到顯微鏡上來獲取吸光度、反射率和熒光性的光譜和圖像。