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微區(qū)光電流及光譜測(cè)試平臺(tái)
Tuotuo 科技TTT-03微區(qū)光電流及微區(qū)光譜測(cè)試平臺(tái)采用獨(dú)特的模塊化光學(xué)、機(jī)械、探測(cè)器及軟件設(shè)計(jì)理念，搭載多波長(zhǎng)/多品種激光光源、電流-電壓測(cè)試儀表、光譜儀、高精度平移臺(tái)以及集中控制軟件，實(shí)現(xiàn)材料器件的微區(qū)光電響應(yīng)測(cè)試及掃描成像、電致發(fā)光/光致發(fā)光等多種光譜探測(cè)、發(fā)光壽命探測(cè)等功能。
系統(tǒng)構(gòu)成
l 成像系統(tǒng)
- 研究級(jí)正置或倒置顯微鏡
- 可配置各波段、各種靈敏度相機(jī)
- 錐光觀測(cè)裝置，輕松準(zhǔn)直
- 紫外-可見(jiàn)--紅外多種物鏡
l 激光及光源
- 高穩(wěn)定激光合束器可容納多達(dá)8臺(tái)激光器，電動(dòng)切換
- 深紫外 - 遠(yuǎn)紅外全兼容
- 自動(dòng)偏振、強(qiáng)度控制
- 支持飛秒~納秒脈沖激光
- 支持超連續(xù)譜、燈室等寬譜光源
l 樣品臺(tái)
- 高負(fù)載、高精度X-Y平移臺(tái)
- 直流、RF探針支持
- 低溫/變溫支持
- 外加電磁場(chǎng)支持
l 測(cè)試
- 電學(xué)測(cè)試（光電流，I-V）
- 明暗場(chǎng)成像
- 發(fā)射光譜
- 各向異性測(cè)量
- TCSPC壽命測(cè)量及成像
- ......
增強(qiáng)款微區(qū)光電流/光譜系統(tǒng)
微區(qū)光電流及光譜測(cè)試平臺(tái)功能與配置
顯微及成像功能 | l 研究級(jí)正置、倒置顯微鏡 l 支持明暗場(chǎng)成像 l 電致發(fā)光成像、光致發(fā)光成像 l 雙光子/多光子熒光成像 l 二次諧波成像 l 可選配工業(yè)觀察相機(jī)、高靈敏度科研級(jí)CCD相機(jī)及EMCCD相機(jī)等 l 可選配近紅外/ 中遠(yuǎn)紅外成像相機(jī) l 支持標(biāo)準(zhǔn)物鏡、長(zhǎng)工作距離物鏡、紫外/紅外物鏡 |
光源 | l 266nm - 2μm波長(zhǎng)，可同時(shí)配置8路光源，軟件切換 l 可支持2μm - 12μm 中紅外光源 l 可支持飛秒振蕩器、放大器、OPA、皮秒、納秒激光器等脈沖光源 l 可擴(kuò)展脈沖LED光源 l 可支持燈室、超連續(xù)譜、ASE、SLD等寬帶光源 l 全自動(dòng)偏振控制 l 全自動(dòng)衰減控制 |
光電流測(cè)試 | l 微區(qū)分辨率：500nm l 掃描分辨率：50nm l 掃描定位精度：±100nm l 掃描行程：**100mm l 激發(fā)波長(zhǎng)：取決于所選配光源 l 全自動(dòng)掃描測(cè)試 |
光譜測(cè)試 | l 兼容主流掌上光譜儀及科研級(jí)高靈敏度光柵光譜儀 l PL光譜、反射光譜、單顆粒散射光譜測(cè)試 l TCSPC熒光壽命測(cè)試及掃描成像 |
擴(kuò)展 | l 低溫樣品室 l 偏置電磁場(chǎng) |
測(cè)試示例
半導(dǎo)體器件微區(qū)光電流掃描成像
鈣鈦礦PL成像
MAPbI3體系強(qiáng)度相關(guān)PL光譜及PL壽命
金納米顆粒單顆粒雙光子熒光光譜（左） 金納米顆粒偏振敏感雙光子熒光（右）
暫無(wú)數(shù)據(jù)！
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