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一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介

LiteScope™是為不同品牌的掃描電子顯微鏡（SEM）設(shè)計(jì)的“即插即用”的掃描探針顯微鏡。根據(jù)客戶需求，定制并提供適當(dāng)?shù)倪m配器和反饋機(jī)制，很容易通過四個(gè)螺絲將LiteScope™固定在電子顯微鏡的樣品臺(tái)上，通過線纜與控制器、電腦進(jìn)行連接。 LiteScope™通過可更換探針進(jìn)行多種掃描探針顯微鏡（SPM）成像模式。 綜合分析包括：面形貌表征、機(jī)械性能、電性能、磁性能。

二、 功能

• 主要功能

LiteScope™提供并支持各種SPM測(cè)量方法和各種探針，其設(shè)計(jì)基礎(chǔ)和*有價(jià)值的技術(shù)特征是通過不同的探針夾，使用不同的探針以達(dá)到測(cè)試要求。其主要測(cè)試功能：原子力顯微鏡（AFM）、靜電力顯微鏡(EFM)、局部電壓/電流測(cè)量、力調(diào)制模式（FMM）、開爾文探針力模式（KPFM）、磁力顯微鏡（MFM）、掃描隧道顯微鏡（STM）、納米壓痕。

• 技術(shù)特點(diǎn)

LiteScope™采用關(guān)聯(lián)探針和電子顯微鏡技術(shù)（CPEM），該技術(shù)利用兩種不同的技術(shù)對(duì)同一物體城鄉(xiāng)的方法。CPEM能夠同時(shí)對(duì)樣品表面的同一個(gè)區(qū)域進(jìn)行SEM和AFM表征。

LiteScope™通常用于高真空環(huán)境，但也可根據(jù)要求適用于超高真空環(huán)境。

工作溫度：+15°C至+25°C

標(biāo)準(zhǔn)工作壓力：10^-5Pa~10⁵Pa

外形尺寸：129 mm x 90 mm x 45-55 mm

**掃描面積：22 mm x 11 mm x 8 mm

掃描范圍：100 um x 100 um x 100 um

分辨率：0.2nm

• 技術(shù)能力

優(yōu)勢(shì)

獨(dú)特的關(guān)聯(lián)探針和電子顯微鏡技術(shù)（CPEM）

綜合表面表征-形貌、粗糙度、磁性、導(dǎo)電性、電性能

在樣品表面對(duì)針尖進(jìn)行精確導(dǎo)航定位

5分鐘內(nèi)輕松集成和安裝/拆卸

即插即用

與FIB、GIS、EDX等附件兼容

無需光學(xué)探測(cè)、無需激光調(diào)節(jié)的自感應(yīng)探頭

商用探針，多種測(cè)量模式

可根據(jù)客戶要求定制探針適配于合適的探針夾

測(cè)量頭可縮回LiteScope™的主體，以節(jié)省樣品周圍的空間。

傾斜操作（傾斜0°–60°），*小WD=5 mm

軟件友好，無需特殊安裝

遠(yuǎn)程訪問結(jié)果和測(cè)量設(shè)置

三、應(yīng)用

• 生物傳感用石墨烯包裹金納米粒子雜化結(jié)構(gòu)的SEM/AFM表征

金納米粒子與石墨烯掩膜的結(jié)合是一種新的制備適用于表面增強(qiáng)拉曼光譜（SER）的活性基底的方法。石墨烯可以作為針孔鈍化層，防止等離子體納米結(jié)構(gòu)氧化。金粒子與石墨烯的接觸程度對(duì)SERS的靈敏度有重要影響。因此，了解石墨烯膜對(duì)單個(gè)納米顆?；虼祟惣{米顆粒簇的遮蓋方式非常重要?？墒褂肅PEM輕松確定納米顆粒在石墨烯膜下的分布以及表面形貌。雖然LiteScope™SPM（AFM）可以對(duì)納米顆粒上的石墨烯層進(jìn)行表面成像，但SEM可以對(duì)石墨烯層下的納米顆粒進(jìn)行成像。

• 含HFO2顆粒的W-Cr固溶體退火后的降解

在1000°C下退火10小時(shí)后W-10Cr-1HF（含HFO2顆粒的固溶W-Cr）的分解?？紫缎纬捎诙趸x顆粒周圍，同時(shí)也形成富鉻部分（深色片晶或點(diǎn)）和富W部分（片晶之間的亮區(qū)）。利用CPEM可以快速、準(zhǔn)確地識(shí)別掃描電鏡圖像中的形貌和材料對(duì)比度，很容易區(qū)分HF顆粒與孔隙。用CPEM技術(shù)研究了樣品表面的腐蝕速率。

• 膠原支架上間充質(zhì)干細(xì)胞的研究

  采用冷凍干燥法制備膠原支架（Ceitec-but，RG 2.3）。然后，用間充質(zhì)干細(xì)胞接種支架，在標(biāo)準(zhǔn)培養(yǎng)條件下培養(yǎng)6天（馬薩里克大學(xué)組織胚胎學(xué)系）。*后，用四氧化鋨和醋酸鈾酰對(duì)支架進(jìn)行染色，以獲得更好的視覺效果。由于獨(dú)特的LiteScope™及其通過掃描電鏡精確的AFM尖端導(dǎo)航，在不損壞支架孔中探針的情況下，才有可能對(duì)制備的細(xì)胞進(jìn)行測(cè)量。利用CPEM，可以同時(shí)用電子束和探針掃描同一個(gè)細(xì)胞并獲得圖像，以及細(xì)胞與基質(zhì)的相互作用，這意味著細(xì)胞在支架后的擴(kuò)展更大——更好的粘附力和更友好的環(huán)境。

• 其他應(yīng)用