珠海真理光學(xué)儀器有限公司
已認(rèn)證
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摘要 基于Mie散射原理的激光粒度儀是顆粒測(cè)量領(lǐng)域應(yīng)用最廣泛的儀器之一。通常情況下顆粒越小,散射角越大,激光粒度儀探測(cè)器陣列接收到的散射光能分布的主峰位置越靠外。但是,對(duì)特定相對(duì)折射率的顆粒,在某些粒徑區(qū)間,散射光能分布的主峰位置會(huì)隨著顆粒粒徑的減小而向探測(cè)器陣列的內(nèi)側(cè)移動(dòng),稱(chēng)之為散射光能分布的反常移動(dòng)。根據(jù) Mie 散射原理,給出了反常移動(dòng)的規(guī)律以及不同相對(duì)折射率下反常移動(dòng)的粒徑區(qū)間,分析了反常移動(dòng)對(duì)粒度分析的影響,提出了降低該影響的方法,并對(duì)實(shí)際樣品進(jìn)行測(cè)試對(duì)比。結(jié)果表明,該方法可以降低反常移動(dòng)對(duì)粒度分析的影響。
關(guān)鍵詞 激光粒度儀;光能分布反常移動(dòng);Mie 散射;主峰位置
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