編號：CPJS00439
篇名：標(biāo)準曲線法X射線粉晶衍射直接分析滑石中微量石棉
作者：薛雍 江向峰 鐘玉鋒
關(guān)鍵詞：微量石棉; 滑石; 定量分析; X射線粉晶衍射法
機構(gòu)： 北京北達燕園微構(gòu)分析測試中心有限公司
摘要： 摘要: 以X射線粉晶衍射法為主要測試手段,結(jié)合偏光顯微鏡檢查,配制了一套石棉含量為0. 1% ～1. 5% (質(zhì)量分數(shù))的滑石樣品作為參考標(biāo)準,采用標(biāo)準曲線法直接定量滑石中的微量石棉。結(jié)果表明,方法檢出限低,重現(xiàn)性好,石棉樣品的用量少,快速、有效。
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