編號：CYYJ043584
篇名：原始粉體對Mg-PSZ陶瓷電化學(xué)性能的影響
作者：洪浩 劉濤 于景坤
關(guān)鍵詞： 氧化鋯陶瓷 致密度 離子電導(dǎo)率
機(jī)構(gòu)： 東北大學(xué)冶金學(xué)院
摘要： 分別利用固相燒結(jié)法和共沉淀法制備了摩爾分?jǐn)?shù)為8%的MgO穩(wěn)定ZrO2粉體,并在1 600℃下燒結(jié)2 h,獲得了摩爾分?jǐn)?shù)為8%的MgO部分穩(wěn)定氧化鋯陶瓷(8Mg-PSZ),考察了原始粉體對陶瓷體相含量、致密度、微觀結(jié)構(gòu)和離子電導(dǎo)率的影響.結(jié)果表明:原始粉體形貌對Mg-PSZ陶瓷性能的影響很大,原始粉體粒徑越小、團(tuán)聚程度越低,所獲得的Mg-PSZ陶瓷四方相和立方相氧化鋯含量(體積分?jǐn)?shù))、致密度越大,離子電導(dǎo)率越高;以NaOH溶液為沉淀劑、以共沉淀法合成的粉體為原料燒結(jié)得到的Mg-PSZ陶瓷具有最佳性能,體積密度為5.68 g/cm3,在650~950℃的測試范圍內(nèi)激活能為1.24 eV,950℃下離子電導(dǎo)率可達(dá)4.79 mS/cm.
