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布魯克Hysitron PI 85L是SEM專用的多用途、高靈敏度熱學(xué)、電學(xué)和力學(xué)的測試系統(tǒng)，利用SEM的高分辨率，可以直接觀測整個材料動態(tài)變化的過程。傳統(tǒng)納米壓痕儀通過光學(xué)顯微鏡或原位掃描只能觀察到壓痕前及壓痕后的形貌變化，中間過程無法觀察到，載荷位移曲線上的一些突變我們無法解釋，甚至單從曲線分析會導(dǎo)致錯誤的解釋。

PI 85L安裝于電鏡，可以精確施加載荷，檢測位移，在電鏡下做壓痕、拉伸、彎曲、壓縮、加熱、電學(xué)和劃痕測試，可以借助電鏡的高分辨率，觀測并記錄整個材料測試過程，觀測材料在力下發(fā)生的動態(tài)變化，如金屬蠕變、相變、斷裂起始等。

PI 85L采用Hysitron**技術(shù)三板電容傳感器，具備載荷和位移同時監(jiān)測和驅(qū)動的獨(dú)特功能。具備業(yè)界**的精度，重復(fù)性和低背景噪音等優(yōu)點(diǎn)。PI 85L擁有多種特色測試功能模塊可供選擇，如動態(tài)力學(xué)測試、MEMS加熱、拉伸測試、電學(xué)測試、納米劃痕等功能模塊。