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        納米紅外掃描近場光譜和成像系統(tǒng)Anasys &
        納米紅外掃描近場光譜和成像系統(tǒng)Anasys &

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        2015Anasys發(fā)布了**一代產(chǎn)品nanoIR2-s,在廣受歡迎的第二代納米紅外光譜系統(tǒng)的基礎(chǔ)上增加了散射近場光學成像和光譜功能(s-SNOM)。實現(xiàn)了同一平臺兼具AFM-IRs-SNOM兩種技術(shù)。儀器的空間分辨率達到10nm,廣泛用于各種聚合物、有機無機復合材料、生物樣本、半導體、等離子體、納米天線等。

        納米紅外&散射近場光學成像和光譜系統(tǒng)(nanoIR2-s)

        AFM-IR &s-SNOM

        lAFM-IR 消除分析化學研究人員的擔憂--FTIR光譜完全吻合,沒有吸收峰的任何偏移

        ls-SNOM使用金屬鍍層AFM探針代替?zhèn)鹘y(tǒng)光纖探針來增強和散射樣品納米區(qū)域內(nèi)的光輻射,空間分辨率由AFM針尖的曲率半徑?jīng)Q定

        l**技術(shù)實現(xiàn)智能的光路優(yōu)化調(diào)整,無需擔心光路偏差拖延你的實驗進度

        l*準確的定性微區(qū)化學表征,得到美國國家標準局NIST, 橡樹嶺國家實驗室等美國權(quán)威機構(gòu)的認可

        l簡單易用的操作,被三十多位企業(yè)用戶和近百位學術(shù)界所選擇

        l基于DI傳承的多功能AFM實現(xiàn)納米熱學,力學,電學和磁學測量:

        l納米熱分析模塊(nanoTA, SThM

        l洛侖茲接觸共振模塊(LCR

        l導電原子力顯微鏡鏡(CAFM

        l開爾文電勢顯微鏡(KPFM

        l磁力顯微鏡(MFM

        l靜電力顯微鏡(EFM

        10納米空間分辨率化學成像和光譜

        石墨烯等離子體 高分辨率成像

        石墨烯表面等離子體的近場相位和振幅成像;優(yōu)于10nm的光學成像

        PTFEnano FTIR光譜顯示相干分子振動時域圖(上圖)和相應(yīng)的近場光譜(下左圖)。pNTP分子層的近場光譜(圖下右)。

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        納米紅外掃描近場光譜和成像系統(tǒng)Anasys &信息由布魯克納米表面儀器部(Bruker Nano Surfaces)為您提供,如您想了解更多關(guān)于納米紅外掃描近場光譜和成像系統(tǒng)Anasys &報價、型號、參數(shù)等信息,歡迎來電或留言咨詢。
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