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        德國Sentech激光橢偏儀SE 400adv PV
        德國Sentech激光橢偏儀SE 400adv PV

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        德國

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        深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司

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        德國Sentech激光橢偏儀SE400adv PV

        SE 400adv PV是全球化使用的標(biāo)準(zhǔn)儀器,用于測量PV單層防反射涂層的厚度和折射率指數(shù)。特別用于表征單晶和多晶硅太陽能電池上的SiNx 防反射單層膜的性能。該儀器用于SiNx涂層和薄鈍化層SiO2和Al2O3的質(zhì)量控制。

        防反射涂層的國際標(biāo)準(zhǔn)

        目前國內(nèi)外已有330多臺(tái)SE 400adv PV激光橢偏儀用于表征防反射膜。

        粗糙表面分析

        高靈敏度和超低噪聲檢測允許在非理想,雜散光造成表面的測量,典型的紋理單晶和多晶硅太陽能電池。

        高度準(zhǔn)確

        SE 400adv PV激光橢偏儀具有穩(wěn)定的激光光源、穩(wěn)定的溫度補(bǔ)償裝置、超低噪聲探測器,因而具有極高的穩(wěn)定性和精度。

        多角度激光橢偏儀SE 400adv PV在632.8nm的氦氖激光波長下,在紋理化的單晶和多晶硅片上提供防反射單膜的膜厚和折射率??筛鼡Q的晶片載片器允許對多晶晶片和堿性織構(gòu)的單晶晶片進(jìn)行測量。

        激光橢偏儀SE 400adv PV特別適用于分析SiNx、ITO、TiO2薄膜以及SiO2和Al2O3薄膜鈍化層。雙層堆疊膜可以在光滑的基板上進(jìn)行分析。

        SE 400adv PV是一種緊湊的儀器,快速上升和運(yùn)行。SENTECH簡單易用,基于配方的軟件包括符合研發(fā)和生產(chǎn)環(huán)境質(zhì)量控制要求的預(yù)定義應(yīng)用程序的綜合包。

        一種用于光伏應(yīng)用的便攜式激光橢偏儀可用于在整個(gè)生產(chǎn)線運(yùn)行之前,建立和測試大型PECVD設(shè)備。

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