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        激光芯片開封機GLOBAL ETCH II
        激光芯片開封機GLOBAL ETCH II

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        產(chǎn)地

        新加坡

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        暫無
        似空科學(xué)儀器(上海)有限公司

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        第2年

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        激光開封技術(shù)也可以在不破壞芯片或者電路的整體功能的前提下,去除局部的塑封材料,進行測試甚至修復(fù)實驗。與化學(xué)開封技術(shù)相比,激光開封更加高效,同時避免了減少強酸環(huán)境暴露。

        基本原理:

        芯片激光開封機的工作原理是利用高能激光蝕刻掉芯片或者電子元器件的塑

        封外殼,從而光學(xué)觀測或者電氣性能測試提供了可能性,以便于實現(xiàn)X射線等無損檢測無法實現(xiàn)的功能。

        激光開封技術(shù)也可以在不破壞芯片或者電路的整體功能的前提下,去除局部的塑封材料,進行測試甚至修復(fù)實驗。與化學(xué)開封技術(shù)相比,激光開封更加高效,同時避免了減少強酸環(huán)境暴露。

        應(yīng)用領(lǐng)域:

        去除半導(dǎo)體芯片的塑封外殼,PCB板截面切割,以及其它類似的破壞性物理試驗或失效分析場景。

        產(chǎn)品優(yōu)勢:

        • 來自德國的高精密激光掃描頭(SCANLAB)

        • 激光脈沖寬度可調(diào)(1ns-250ns)

        • 激光系統(tǒng)與CCD視覺系統(tǒng)同軸共焦,實時觀測激光掃描過程

        • 可直接導(dǎo)入X-Ray或者超聲波掃描圖像,為復(fù)雜定點開封提供支持

        • 強大的軟件功能,保證了定位、區(qū)域標(biāo)定、聚焦、參數(shù)設(shè)定、條碼繪制等功能得以簡潔可靠地實現(xiàn)

        • 高性能煙塵過濾系統(tǒng),自動震動防堵,可過濾98%以上0.3um直徑的環(huán)氧樹脂顆粒

        技術(shù)參數(shù):
        型號GLOBAL ETCH II ML-20**掃描范圍110mm x 110mm
        激光類型單點/中心加壓實時操作模式同軸和共焦
        激光波長1064nm樣品尺寸0.5mm - 70mm
        功率20W激光壽命≥ 80000小時
        輸出功率范圍1% ~ 100%設(shè)備安全等級Class I (互鎖)
        脈沖寬度1ns-250ns煙塵過濾器1.8kPa,0.3μ的顆粒
        光束質(zhì)量M2 ≤ 1.3設(shè)備尺寸700 x 1000 x 1700mm
        單次開封深度0.01mm~2mm壓縮氣體大于0.3MPa(同時吹吸,油水分離)
        開封速度≥ 8000mm/s相機1500萬像素彩色照相機
        激光頻率1Khz-2000Khz重量150KG
        注:單位時間內(nèi)激光出光的重復(fù)率所調(diào)節(jié)的能量范圍對于開銅線非常重要
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        10分

        性價比

        10分
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