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        電滯回線及高壓介電擊穿強度測試系統(tǒng)
        電滯回線及高壓介電擊穿強度測試系統(tǒng)

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        美國PolyK Technologies公司基于改進(jìn)優(yōu)化的動態(tài)Sawyer-Tower電路開發(fā)的該系統(tǒng),廣泛用于測量介電和鐵電材料的電荷密度與電場及頻率的關(guān)系;

        系統(tǒng)特點:1)整合了系統(tǒng)保護電路:當(dāng)試樣在高壓測試發(fā)生擊穿時,可有效的保護測試系統(tǒng);

        2)配合Trek高壓放大器執(zhí)行測試時,高壓>10kV,并且頻率可達(dá)1000Hz,高級模式可達(dá)300kHz;

        3)高壓擊穿測試可在AC、DC或者Field endurance life模式下測試,而且只需簡單的切換信號連接即可;

        4)自動鐵電性能測試直至介電擊穿發(fā)生;

        5)對于介電材料充放電測試,軟件能自動給出充電能量密度和放電能量密度,以及充放電效率;

        6)對于壽命循環(huán)測試(DC模式或者AC模式),系統(tǒng)會自動生成測試總結(jié)文件;

        7)獨特的夾具設(shè)計,確保即使測試軟的高分子介電材料也不會損傷樣品;

        8)基于LabView設(shè)計的功能強大的軟件系統(tǒng),用戶可方便地控制電壓、信號波形(三角波、正弦波、Unipolar、Bipolar和Arbitrary)和頻率;

        技術(shù)規(guī)格:1)內(nèi)置電壓:±100V or ±200V放大器

        2)電壓放大器>10kV to 30kV

        3)電荷:<1nc to>1mC(取決于放大器輸出)

        4)測試頻率:0.01Hz to 1000Hz, or 10kHz, or 300kHz.

        5)壓電應(yīng)變測量選件:Fotonic Sensor 10nm分辨率 或者磁電傳感器;

        6)高壓變溫測試選件:-184℃ to 250℃;

        測試功能:1)DHM測量:Dynamic Hysteresis measurement

        2)PM測量:PUND measurement

        3)SHM測量:Static hysteresis measurement

        4)FM測量:Fatigue measurement

        5)RM測量:Retention measurement

        6)IM測量:Imprint measurement

        7)漏電流測量:Leakage Current measurement(可選)

        8)熱釋電測量:Pyroelectric measurement(可選)

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