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            全自動Χ光沉降粒度分析儀
            全自動Χ光沉降粒度分析儀

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            型號

            SediGraph III

            品牌

            Micromeritics

            產(chǎn)地

            美國

            樣本

            暫無
            麥克默瑞提克(上海)儀器有限公司

            金牌會員

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            第15年

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            • 分辨率:

              /
            • 重現(xiàn)性:

              優(yōu)于1%
            • 儀器原理:

              光透沉降
            • 分散方式:

              濕法分散
            • 測量時間:

              /
            • 測量范圍:

              0.1-300μm
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            SediGraph III Plus 5125全自動X光沉降粒度分析儀

            微信截圖_20230314150731.png

            • 獨特、可靠且成熟的粒度分析儀

            • 在過去的 50 多年,是全球沉降粒度分析領(lǐng)域的標準

            • 根據(jù)斯托克斯定律確定粒徑

            • 粒徑分析時實時監(jiān)測顆粒沉降過程并查看報告的粒徑結(jié)果

            • 全自動運行并通過先進的軟件界面實現(xiàn)控制

            • 可選配 MasterTech 自動進樣器實現(xiàn)高通量測試

            • 礦業(yè)、地質(zhì)和陶瓷等眾多主流行業(yè)的行業(yè)標準

            • 符合 ASTM B761-06 和先進陶瓷委員會 C28 的要求


            SediGraph III Plus 基于直接檢測質(zhì)量濃度確定粒度分布和統(tǒng)計數(shù)據(jù),例如 D10、D50 和 D90。 只需一鍵即可獲得基本和高級報告。 SediGraph III Plus 可選配 MasterTech 自動進樣器,連續(xù)監(jiān)測生產(chǎn)過程,并將數(shù)據(jù)推送到網(wǎng)絡(luò)或云端以供遠程訪問。

             

            性能與優(yōu)點:


            智能設(shè)計特性

            SediGraph III Plus 粒度分析儀先進的設(shè)計確保了測量的重復(fù)性和使用的便利性。 全新功能使得儀器的操作和維護更加輕松,并且能夠確保對同一樣品在任意一臺 SediGraphs 儀器上都能獲得可靠、重現(xiàn)的結(jié)果。

             

            設(shè)計改進包括

            • 完整的顆粒分析,能夠確保對樣品中的所有顆粒進行分析,包括粒徑小于 0.1 μm 的部分

            • 能夠與其他粒徑測量方法獲得的數(shù)據(jù)合并,從而將數(shù)據(jù)報告范圍擴展到 125000 μm (125 mm),在地質(zhì)學(xué)方面有很好的應(yīng)用

            • 自下而上地掃描沉降池,能夠準確地獲取快速沉降顆粒的總數(shù),同時盡可能縮短細顆粒分離所需的時間

            • 全自動操作模式能夠提高樣品分析通量,并且減少人為操作步驟,以降低由人為操作造成的測量誤差

            • 溫控分析可確保在整個分析過程中液體的性質(zhì)保持恒定,獲得精確的分析結(jié)果

            • 多種分析速度,可根據(jù)實際需要選擇速度和分辨率

            • 實時顯示,能夠監(jiān)控當(dāng)前分析的累積質(zhì)量圖,以便根據(jù)需求即時修正分析程序

            • 統(tǒng)計過程控制(SPC)報告能夠跟蹤過程性能,便于立即對波動變化作出響應(yīng)

            • 多圖疊加功能,能夠?qū)Ψ治鼋Y(jié)果進行可視化比較,例如,與參考樣品或基線疊加,或?qū)⑼环治鰯?shù)據(jù)的兩種不同類型結(jié)果圖疊加

            • 數(shù)據(jù)比較圖,能夠以圖表形式顯示兩組數(shù)據(jù)集之間的數(shù)學(xué)差(與參考樣品圖的差異)或某個數(shù)據(jù)點值高于或低于容差范圍的程度(超標圖)

            • 多分析儀控制,允許使用同一臺計算機控制兩臺 SediGraph ,節(jié)省寶貴的實驗室空間,方便數(shù)據(jù)存儲

            更多信息,歡迎咨詢。


            Micromeritics 是提供表征顆粒、粉體和多孔材料的物理性能、化學(xué)活性和流動性的全球高性能設(shè)備生產(chǎn)商。我們能夠提供一系列行業(yè)前沿的技術(shù),包括比重密度法、吸附、動態(tài)化學(xué)吸附、壓汞技術(shù)、粉末流變技術(shù)、催化劑活性檢測和粒徑測定。


            公司在美國、英國和西班牙均設(shè)立了研發(fā)和生產(chǎn)基地,并在美洲、歐洲和亞洲設(shè)有直銷和服務(wù)業(yè)務(wù)。Micromeritics 的產(chǎn)品是全球具有創(chuàng)新力的知名企業(yè)、政府和學(xué)術(shù)機構(gòu)旗下 10,000 多個實驗室的優(yōu)選儀器。我們擁有專業(yè)的科學(xué)家隊伍和響應(yīng)迅速的支持團隊,他們能夠?qū)?Micromeritics 技術(shù)應(yīng)用于各種要求嚴苛的應(yīng)用中,助力客戶取得成功。


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            Micromeritics 是提供表征顆粒、粉體和多孔材料的物理性能、化學(xué)活性和流動性的全球高性能設(shè)備生產(chǎn)商。我們能夠提供一系列行業(yè)前沿的技術(shù),包括比重密度法、吸附、動態(tài)化學(xué)吸附、壓汞技術(shù)、粉末流變技術(shù)、催化劑活性檢測和粒徑測定。


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            2020-02-28

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            10分

            易用性

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            性價比

            10分
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