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TIDAS MSP 400系統(tǒng)適用范圍 :

- 在透射模式下可以測量光纖的紫外/可見光光譜

- 關(guān)于反射率（明/暗場）所有應(yīng)用程序，偏振或熒光，取決于所選擇的配置

- 獲取時間小于1秒

- 通過J&M TidasVISION軟件在線視頻圖像和光譜的同步采集

- 靈活可調(diào)的控光裝置

- 靈活運用于材料學(xué)和生物學(xué)(MSP 400/800)

- 光電倍增器或 CCD 探測器

- 可適應(yīng)不同制造商的顯微鏡

概述

有機發(fā)光二極管（OLED）正在開發(fā)的下一代顯示器和光源。TIDAS J&M MSP400/800顯微分光光度計在OLED/TFT/LED研究領(lǐng)域中廣泛，目的是衡量和比較的光譜輸出，每個常用的OLED器件的微觀像素的亮度和顏色的一致性。

有機發(fā)光二極管（OLED）有一個發(fā)光的電致發(fā)光層，在支持矩陣有機分子組成。顯示，這層是形成有序的行和列數(shù)以百萬計的微觀像素。由于不同的有機物是用來產(chǎn)生不同的顏色，與不同的有機化合物像素可以產(chǎn)生全彩色，高分辨率顯示的不同顏色。 OLED顯示單元，不像傳統(tǒng)的液晶顯示器（LCD），**的優(yōu)點是像素結(jié)合光源和顏色源。這意味著，OLED顯示屏更輕更薄，比一個液晶顯示屏，使用更少的電力。然而，強度和顏色的光發(fā)射器件上的一致性是至關(guān)重要的。這是TIDAS J&M MSP400/800分光光度計得到使用的關(guān)鍵。

TIDAS J&M MSP400/800是一種附加在顯微鏡上的分光光度計。它允許用戶獲取的圖像和微觀樣本地區(qū)迅速，并迅速獲得的光譜。當(dāng)添加到適當(dāng)?shù)娘@微鏡或探針臺，TIDAS J&M MSP400/800可以用來衡量一個OLED顯示屏的每個像素的顏色和強度。像素可以進行比較的強度和色彩的一致性或地圖，可為每個設(shè)備生成。如TIDAS J&M MSP400/800可以獲取幾毫秒的時間順序上的光譜儀器，整個OLED顯示器可以快速，準確地映射。這將確保色彩和整個裝置的強度，以及從設(shè)備到設(shè)備的一致性。以及在平板顯示器領(lǐng)域，用來檢查紅、綠、藍點陣的薄膜厚度和雜質(zhì)水平。

同時TIDAS J&M MSP400/800在半導(dǎo)體工業(yè)領(lǐng)域，可以用來發(fā)現(xiàn)能發(fā)熒光的微小污染物，以及在硅片被切成芯片前測量硅襯底上薄膜的厚度。J&M 公司已在歐洲、美國、南非和亞洲安裝了許多系統(tǒng)。

TIDAS MSP 400

使用J&M的TIDAS MSP 400 你可測量在透射模式下光纖的 VIS 光譜和在反射模式下（ 明場和暗場 ）光纖與涂料的VIS光譜。光譜儀的波長范圍是360 nm到780 nm 。對于偏振實驗，補償?shù)钠獍蹇汕度氲焦饫w束中。偏振光譜受限于光學(xué)顯微鏡，從450 nm 到700 nm。在反射模式下，光譜范圍為360 nm 到 780nm 。熒光測量和多套濾波器都是可用的（紫外光，藍光和綠光激勵是正常標準 ）。此外，快速掃描的單色光源（260 nm 到 680 nm）也是可用的。全光譜（240 nm 到 900 nm ）通?？稍谛∮?秒內(nèi)獲取。噪聲和采集速度取決于所選擇的領(lǐng)域 ，由靈活可調(diào)測量隔膜給出。使用 40X 物體時，*小光斑區(qū)域是2μm 到2μm 的。如果顯微鏡提供紫外光能力，MSP400可升級到MSP 800。

MSP 400 與 Zeiss （蔡司）顯微鏡

MSP 400 與 Leica （萊卡）顯微鏡

軟件和配件

J&M 的軟件可方便儀器的控制。附加可用的軟件包提供數(shù)據(jù)處理、文檔編制、導(dǎo)出選項和存儲的多種功能。您可以創(chuàng)建你自己的譜庫為有效的庫搜索。該儀器采用了CIE色彩評估體系，并能夠產(chǎn)生互補的色度坐標值（CCC 認證）。波長和光度計的精度可通過灰色或鈥濾波器實現(xiàn)簡易的檢查，這作為配件。

樣品光譜（圓珠筆檢驗)

TFT分析測量

◆ 大顯示屏質(zhì)量控制

◆ 根據(jù)實驗室測試值來確定其色彩分析校準

◆ 雜點區(qū)分

◆ 工作原理：通過365nm的激發(fā)熒光來分析顯示屏的反射波長，從而監(jiān)控發(fā)射波長的變化

OLED分析測量

◆ 確定**發(fā)射波長

◆ 測量外加電壓的條件下的發(fā)射光的線性變化

◆ 通過軟件來區(qū)分計算發(fā)光材料上的雜色點

◆ 工作原理：通過對OLED提供不同的電壓來檢測發(fā)射波長的反射特性