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            Pharos-STEM 掃描透射電子顯微鏡
            Pharos-STEM 掃描透射電子顯微鏡

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            型號(hào)

            Pharos-STEM

            品牌

            飛納

            產(chǎn)地

            荷蘭

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            復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司

            金牌會(huì)員

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            第8年

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            • 探測(cè)器:

              BF、DF、HAADF
            • 加速電壓:

              1kV-20kV連續(xù)可調(diào)
            • 電子槍?zhuān)?/p>肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍

            • 電子光學(xué)放大:

              2,000,000x
            • 光學(xué)放大:

              27-160x
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            Phenom Pharos 臺(tái)式場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡因其多功能性和**的成像性能贏得了良好的口碑 —— 即使是在傳統(tǒng)較難觀測(cè)的樣品中也表現(xiàn)優(yōu)異。直觀的用戶(hù)界面有助于將高分辨率圖像呈現(xiàn)給用戶(hù), FEG 場(chǎng)發(fā)射電子源在 1-20kV 的加速電壓范圍內(nèi)都提供了高分辨率。

            Phenom Pharos STEM 臺(tái)式場(chǎng)發(fā)射 SEM-STEM 電子顯微鏡,配備了 STEM 樣品杯,從另一個(gè)維度提高了其成像能力和應(yīng)用的多樣性。


            新品發(fā)布.png


            作為全球**臺(tái)式場(chǎng)發(fā)射 SEM-STEM 電子顯微鏡,在較低的加速電壓下,減少了電子束對(duì)樣品的損傷,顯著提高了圖像的襯度。在臺(tái)式掃描電鏡下即可快速獲得高分辨的 BF 像、DF 像、HAADF 像,且支持用戶(hù)自定義成像。Pharos STEM 樣品杯為材料領(lǐng)域的研究提供了高效、全面的表征方式。


            STEM.png

            BF 像:主要是樣品正下方同軸的探測(cè)器接收透射電子和部分散射電子。影響明場(chǎng)像襯度(Contrast)的主要因素是樣品的厚度和成分。樣品越厚,原子序數(shù)(Z)越大,穿透樣品的電子越少,圖像就越暗,因此 BF 像對(duì)輕元素(Z 較小)比較敏感。

            DF 像:主要是樣品下方非同軸位置的探測(cè)器接收散射電子信號(hào)。

            HAADF 像:主要是接收高角度的非相干散射電子信號(hào)。原子序數(shù)(Z)越大,散射角也越大,原子核對(duì)入射電子的散射作用越強(qiáng),圖像上更亮。因此又被稱(chēng)為 Z 襯度像。

            三種成像模式各有特點(diǎn),具有不同的成像優(yōu)勢(shì),可以根據(jù)樣品情況搭配使用,成像結(jié)果進(jìn)行互相驗(yàn)證。


            煙草花葉病毒.png

            煙草花葉病毒的BSE 像、BF 像、 DF 像和 HAADF 像


            對(duì)比掃描電鏡的背散射電子圖像(BSE),桿狀的煙草花葉病毒在 BF 模式下更加直觀。BF 模式更適合觀察輕元素(Z 較小),輕元素散射作用較弱,因此在 HAADF 模式下較難清晰觀測(cè)細(xì)節(jié)。


            而桿狀煙草花葉病毒周?chē)^厚的脂質(zhì)球,電子較難穿透,BF 像上相對(duì)較暗。在 DF 模式下,密度較大的脂質(zhì)球表現(xiàn)出較強(qiáng)的衍射,因此在 DF 像上相對(duì)較亮。

            規(guī)格參數(shù):


            • 系統(tǒng)兼容:Phenom Pharos G2 臺(tái)式場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡

            • 樣品兼容:? 3 mm TEM 載網(wǎng)(夾具固定)

            • 成像時(shí)間:< 40 s*

            • 成像模式:BF、DF、HAADF、 自定義**

            • 成像工作流程:固定的 WD,設(shè)置**的探測(cè)器 ,完全集成的 UI

            • 真空度:0.1, 10 & 60 Pa

            • 分辨率:優(yōu)于 1 nm



            * 加載樣品到呈現(xiàn)圖像的時(shí)間
            ** STEM 具有 11 分割探測(cè)器,用戶(hù)可以對(duì)其進(jìn)行自定義選擇

            創(chuàng)新點(diǎn)

            Pharos STEM 電子顯微鏡,利用 FEG 高亮度電子源,可在透射模式下對(duì)薄樣品進(jìn)行成像。專(zhuān)用的樣品夾可輕松裝載常規(guī) 3mm 直徑透射電鏡 (TEM) 載網(wǎng),實(shí)現(xiàn)樣品的快速、安全切換。STEM 樣品杯可提供明場(chǎng) (BF) 、暗場(chǎng) (DF) 和高角度環(huán)形暗場(chǎng) (HAADF) 像,并支持自定義選擇成像模式。

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