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        Pentagon Qlll 表面微粒子計(jì)數(shù)器表面塵埃粒子理化分析 儀 0.1-5um
        Pentagon Qlll 表面微粒子計(jì)數(shù)器表面塵埃粒子理化分析 儀 0.1-5um

        參考價(jià)格

        90-100萬(wàn)元

        型號(hào)

        Pentagon Qlll

        品牌

        產(chǎn)地

        美國(guó)

        樣本

        暫無(wú)
        無(wú)錫佐藤精密儀器有限公司

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        快速測(cè)量表面顆粒

        可以幫忙控制機(jī)臺(tái)產(chǎn)品上的顆粒物從而提高產(chǎn)量

        通過(guò)快速識(shí)別粒子源,減少故障排除時(shí)間

        可以監(jiān)測(cè)物料,來(lái)料,以及Parts上的Particle

        減少PM的周期

        ?符合 ISO 14644-9表面粒子操作規(guī)范

        ?減少粒子相關(guān)故障


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