參考價(jià)格
90-100萬(wàn)元型號(hào)
Pentagon Qlll品牌
產(chǎn)地
美國(guó)樣本
暫無(wú)看了Pentagon Qlll 表面微粒子計(jì)數(shù)器表面塵埃粒子理化分析 儀 0.1-5um的用戶又看了
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REDEFINE PRODUCTIVITY
美 國(guó) Pentagon Technologies QIII 是一款用于測(cè)量和檢測(cè)機(jī)
技術(shù)來(lái)實(shí)現(xiàn)量測(cè)的精確性和機(jī)臺(tái)的穩(wěn)定性。人的肉眼很難
看清直徑在 100um 以下的粒子,這些粒子會(huì)快速沉降,
逃避常規(guī)的空氣檢測(cè)從而聚積在關(guān)鍵表面或產(chǎn)品上,從而
減少產(chǎn)品的良率及降低產(chǎn)品的穩(wěn)定性, QIII ST 表面粒
子檢測(cè)器測(cè)量( 0.1~5um )的粒子,對(duì)于生產(chǎn)環(huán)境的控制
,提升產(chǎn)品的良率都起到了很大的作用,能夠幫助企業(yè)更
快捷的實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)化管理。
BENEFITS
? 快速測(cè)量表面顆粒
? 可以幫忙控制機(jī)臺(tái)產(chǎn)品上的顆粒物從而提高產(chǎn)量
? 通過(guò)快速識(shí)別粒子源,減少故障排除時(shí)間
? 可以監(jiān)測(cè)物料,來(lái)料,以及Parts上的Particle
? 減少PM的周期
?符合 ISO 14644-9表面粒子操作規(guī)范
?減少粒子相關(guān)故障
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