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掃描電鏡原位拉伸臺-MICROTEST系列

掃描電鏡原位拉伸臺是一種動態(tài)觀察和分析材料微觀變形形貌及斷裂機(jī)制的手段,在材料科學(xué)前沿研究中發(fā)揮了重要作用。

      GATAN公司MICROTEST系列樣品臺可以為很多材料做拉伸測試，如金屬材料（研究韌斷過程、應(yīng)力誘發(fā)相變及塑性變形等），高分子材料等。通過掃描電鏡對微觀結(jié)構(gòu)的形態(tài)變化進(jìn)行原位成像，從而深入理解形態(tài)變化的原因并對變化時刻進(jìn)行成像。結(jié)合對動態(tài)實(shí)驗(yàn)的信息可以克服對傳統(tǒng)的應(yīng)力/應(yīng)變數(shù)據(jù)解釋的不確定因素。針對拉伸、擠壓和彎曲測試，我們提供很多款裝置，負(fù)載范圍從2N到5000N。

      MICROTEST原位拉伸臺針對SEM而特殊設(shè)計(jì)，有四個版本可以使用，200N、300N、2KN、5KN

      MICROTEST系列拉伸臺技術(shù)特點(diǎn)：

      較大載荷范圍：200N, 300N, 2000N 和5000N

      可更換的稱量傳感器量程小到 2N

      應(yīng)變速率：5 μm/min 到 6 mm/min

     可選3- 點(diǎn)和 4-點(diǎn)水平彎曲附件

     EBSD 樣品專用附件

     加熱和水冷臺上配備的定制鉗口

     簡單的軟件用戶界面提供了實(shí)時定量數(shù)據(jù)曲線，結(jié)合靈活的閥值可以進(jìn)行復(fù)雜的實(shí)驗(yàn)，包括循環(huán)負(fù)載。

     支持同步圖像和數(shù)據(jù)采集?？梢酝ㄟ^影響對樣品變化過程進(jìn)行細(xì)節(jié)分析。

1、MICROTEST 200系列拉伸臺

        動態(tài)測試臺，在SEM內(nèi)外都能操作。大200 N負(fù)載，可以進(jìn)行拉伸、擠壓操作，可配水平方向上3或4點(diǎn)彎曲。MICROTEST 200B可以實(shí)現(xiàn)垂直三點(diǎn)彎曲。

2、MICROTEST 300系列拉伸臺

        動態(tài)測試臺，在SEM內(nèi)外都能操作。大300 N負(fù)載，可以進(jìn)行拉伸、擠壓操作，可配水平方向上3或4點(diǎn)彎曲。MICROTEST 300B可以實(shí)現(xiàn)垂直三點(diǎn)彎曲。