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            安徽澤攸科技有限公司
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            公司介紹

            安徽澤攸科技有限公司

            澤攸科技成立于2016年,擁有安徽、北京、上海和東莞四家分公司,是一家具有完全自主知識產(chǎn)權(quán)的精密儀器高科技公司。公司專注于掃描電鏡、原位測量系統(tǒng)、臺階儀、探針臺、電子束光刻機等精密設(shè)備的研究,填補了國家在科學(xué)精密儀器領(lǐng)域的諸多空白。人才是企業(yè)的核心競爭力和發(fā)展的驅(qū)動力。澤攸科技于20世紀(jì)90年代便開啟電子顯微鏡及相關(guān)原位附件的研發(fā),已逐步打造成為科學(xué)精密儀器領(lǐng)域人才聚集地?,F(xiàn)有員工200多人,其中院士、專家團(tuán)隊20余人,擁有精通機械、光學(xué)、超高真空、電子技術(shù)、微納加工技術(shù)、軟件開發(fā)技術(shù)的專業(yè)團(tuán)隊。為解決行業(yè)內(nèi)“卡脖子”難題,企業(yè)全力培養(yǎng)人才,重視產(chǎn)學(xué)研用合作,并與十幾家高校及科研院所建立了長期

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            主推產(chǎn)品

            國產(chǎn)臺式場發(fā)射掃描電子顯微鏡
            型號:國產(chǎn)臺式場發(fā)射掃描電子顯微鏡

            場發(fā)射掃描電鏡產(chǎn)品介紹:ZEMUltra臺式掃描電鏡采用肖特基場發(fā)射電子源,三級獨立真空設(shè)計,優(yōu)于2.5nm的分辨率滿足多數(shù)樣品微納結(jié)構(gòu)表征需求。標(biāo)配大束流及大樣品倉,支持原位功能樣品臺及EDS/EBSD拓展。

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            無掩膜光刻機
            型號:無掩膜光刻機

            澤攸科技無掩膜光刻機是一種先進(jìn)的光刻技術(shù)設(shè)備,它不需要使用傳統(tǒng)的物理掩膜版來轉(zhuǎn)移電路圖形,而是通過計算機控制的高精度光束直接在感光材料上進(jìn)行掃描曝光,形成所需的微細(xì)圖形。目前在微電子制造、微納加工、MEMS、LED、生物芯片等領(lǐng)域有廣泛的應(yīng)用。技術(shù)特點▲納米壓電位移臺拼接技術(shù)▲紅光引導(dǎo)曝光,所見即所得▲OPC修正算法優(yōu)化圖形質(zhì)量▲CCD相機逐場自動聚焦▲灰度勻光技術(shù)光路遠(yuǎn)離結(jié)構(gòu)圖主要指標(biāo)應(yīng)用案例

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            電子束光刻機
            型號:電子束光刻機

            澤攸科技ZEL304G電子束光刻機(EBL)采用場發(fā)射電子槍,配合一體化的高速圖形發(fā)生系統(tǒng)實現(xiàn)對半導(dǎo)體晶圓的高速、高分辨光刻。該系統(tǒng)標(biāo)配高精度激光干涉樣品臺,允許用戶實現(xiàn)大行程高精度拼接和套刻需求,在新材料、前沿物理研究、半導(dǎo)體、微電子、光子、量子研究領(lǐng)域發(fā)揮重要作用。產(chǎn)品特色▲激光干涉樣品臺:先進(jìn)的激光干涉樣品臺,滿足大行程高精度拼接和套刻需求▲場發(fā)射電子槍:高分辨場發(fā)射電子槍是光刻質(zhì)量的重要保證▲圖形發(fā)生器:在保證超高速掃描的同時實現(xiàn)超高分辨率圖案繪制樣品臺指標(biāo)▲標(biāo)配:激光干涉樣品臺▲樣品臺行程:≥105mm▲拼接精度:優(yōu)于50nm(平均值+1σ)▲套刻精度:優(yōu)于50nm(平均值+1σ)電

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            國產(chǎn)臺式場發(fā)射掃描電子顯微鏡

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            無掩膜光刻機

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            電子束光刻機

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            組合推薦產(chǎn)品

            • 光學(xué)儀器及設(shè)備
            • 測量/計量儀器
            • 其他
            • 掃描電鏡
            • 連接器
            • 半導(dǎo)體行業(yè)專用儀器
            SEM納米探針臺.

            型號:SEM納米探針臺.

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            SEM熱電芯片臺

            型號:SEM熱電芯片臺

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            壓電物鏡NF100LA

            型號:壓電物鏡NF100LA

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            ZP3-4 微納探針臺

            型號:ZP3-4 微納探針臺

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            手動臺階儀 JS10B

            型號:手動臺階儀 JS10B

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            半自動臺階儀 JS100B

            型號:半自動臺階儀 JS100B

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            全自動臺階儀 JS3000B

            型號:全自動臺階儀 JS3000B

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            透射電鏡原位力學(xué)-電學(xué)測量系統(tǒng)

            型號:透射電鏡原位力學(xué)-電學(xué)測量系統(tǒng)

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            國產(chǎn)臺式場發(fā)射掃描電子顯微鏡

            型號:國產(chǎn)臺式場發(fā)射掃描電子顯微鏡

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            SEM電池臺

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            透射電子顯微鏡樣品桿預(yù)抽存儲系統(tǒng)

            型號:透射電子顯微鏡樣品桿預(yù)抽存儲系統(tǒng)

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            SEM冷凍真空傳輸系統(tǒng)

            型號:SEM冷凍真空傳輸系統(tǒng)

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            ZEM Ultra場發(fā)射臺式掃描電鏡

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            ZEM20臺式掃描電鏡

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            ZEM18臺式掃描電鏡

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            ZEM系列臺式掃描電鏡-原位拉伸一體機

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            真空高壓電連接器

            型號:真空高壓電連接器

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            真空饋通同軸電極連接器

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            真空饋通連接器

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            無掩膜光刻機

            型號:無掩膜光刻機

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            電子束光刻機

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            等離子體增強化學(xué)氣相沉積系統(tǒng)CVD

            型號:等離子體增強化學(xué)氣相沉積系統(tǒng)CVD

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            SEM納米探針臺.

            型號:SEM納米探針臺.

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            SEM熱電芯片臺

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            壓電物鏡NF100LA

            型號:壓電物鏡NF100LA

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            ZP3-4 微納探針臺

            型號:ZP3-4 微納探針臺

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            手動臺階儀 JS10B

            型號:手動臺階儀 JS10B

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            半自動臺階儀 JS100B

            型號:半自動臺階儀 JS100B

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            全自動臺階儀 JS3000B

            型號:全自動臺階儀 JS3000B

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            透射電鏡原位力學(xué)-電學(xué)測量系統(tǒng)

            型號:透射電鏡原位力學(xué)-電學(xué)測量系統(tǒng)

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            國產(chǎn)臺式場發(fā)射掃描電子顯微鏡

            型號:國產(chǎn)臺式場發(fā)射掃描電子顯微鏡

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            SEM電池臺

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            透射電子顯微鏡樣品桿預(yù)抽存儲系統(tǒng)

            型號:透射電子顯微鏡樣品桿預(yù)抽存儲系統(tǒng)

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            SEM冷凍真空傳輸系統(tǒng)

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            ZEM Ultra場發(fā)射臺式掃描電鏡

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            ZEM20臺式掃描電鏡

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            ZEM18臺式掃描電鏡

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            ZEM系列臺式掃描電鏡-原位拉伸一體機

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            真空高壓電連接器

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            真空饋通同軸電極連接器

            型號:真空饋通同軸電極連接器

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            真空饋通連接器

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            無掩膜光刻機

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            電子束光刻機

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            等離子體增強化學(xué)氣相沉積系統(tǒng)CVD

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            Nat. Commun.:澤攸科技原位力-電樣品桿在晶界遷移機制研究中的應(yīng)用

            近日,浙江大學(xué)張澤院士、王江偉研究員團(tuán)隊作為第一單位在《Nat. Commun.》上發(fā)表了題為《In situ atomistic observation of disconnection-mediated grain boundary migration》的研究成果(NAT.COMMUN.|(2019)10:156)。研究者們在透射電鏡中利用PicoFemto?原位力學(xué)-電學(xué)樣品桿巧妙地設(shè)計實驗

            公司動態(tài)
            2025-04-02
            Inorg. Chem.報道:澤攸科技光電樣品桿在新型光催化產(chǎn)氫系統(tǒng)中的應(yīng)用

            近日,蘇州科技大學(xué)作為第一單位,在《Inorg. Chem.》上發(fā)表了題為《Exploration of CeO2?CuO Quantum Dots in Situ Grown on Graphene under Hypha Assistance for Highly Efficient Solar-Driven Hydrogen Production》(DOI: 10.1021/acs.inor

            公司動態(tài)
            2025-04-02
            NanoLetters最新報道:澤攸科技力-電樣品桿在納米材料力學(xué)/電學(xué)性能表征中的應(yīng)用

            近日,澳大利亞昆士蘭理工大學(xué)作為第一單位,在《NanoLetters》上發(fā)表了題為《Mechanical, Electrical, and Crystallographic Property Dynamics of Bent and Strained Ge/Si Core?Shell Nanowires As Revealed by in situ Transmission Electron Mi

            應(yīng)用實例
            2025-04-02
            Upcoming Events (ZEPTOOLS CO., LTD) -澤攸科技10月主要活動介紹

            歡迎到原位分會場與我們交流。屆時,我們會有資深原位電鏡專家和工程師在現(xiàn)場向您介紹最新、最全的原位電子顯微鏡技術(shù)。

            公司動態(tài)
            2025-04-02
            最新Angew:澤攸科技樣品桿在ETEM中原位制作空氣惰性鋰球

            7月31日,《Angew.Chem.Int.Ed.》期刊以“Air stable lithium spheres produced by electrochemical plating”(10.1002/anie.201807355)為題再次報道了澤攸科技的PicoFemto系列原位樣品桿在TEM中原位制備和測量鋰電池電極的相關(guān)應(yīng)用。文中通過電鍍法在球差校正環(huán)境透射電鏡中制備出可在空氣中穩(wěn)定的金屬

            應(yīng)用實例
            2025-04-02
            最新Joule綜述:澤攸科技原位TEM樣品桿在二維儲能材料研究中的應(yīng)用

            5月18日,北京交通大學(xué)王熙教授(通訊作者)團(tuán)隊的楊一君博士(第一作者)以及天津理工大學(xué)劉喜正(共同一作)副教授、中科院化學(xué)研究所姚建年院士、國際電鏡大牛Yoshio Bando、Dmitri Golberg等人在國際頂級期刊上發(fā)表了“The Role of Geometric Sites in 2D Materials for Energy Storage”的綜述。文章詳細(xì)探討了二維納米材料中的

            應(yīng)用實例
            2025-04-02
            澤攸科技原位透射電鏡測量系統(tǒng)在澳大利亞昆士蘭理工大學(xué)安裝驗收成功

            安徽澤攸科技有限公司的PicoFemto系列原位透射電鏡測量系統(tǒng)一經(jīng)推出便憑借其強大的功能、極致的參數(shù)指標(biāo)和超高的穩(wěn)定性獲得國內(nèi)外用戶認(rèn)可,并協(xié)助用戶在各類頂尖學(xué)術(shù)期刊上發(fā)表大量研究成果。近日,澤攸科技的PicoFemto系列原位測量系統(tǒng)完成SAA等認(rèn)證體系,并在澳大利亞昆士蘭理工大學(xué)(QUT)安裝驗收成功。此次驗收的產(chǎn)品包括單傾電學(xué)測量系統(tǒng)、光電測量系統(tǒng)和力電測量系統(tǒng)。今年,澤攸科技也在積極申請

            公司動態(tài)
            2025-04-02
            新鮮出爐:《Nano Letter》再次報道澤攸科技原位測量系統(tǒng)在固態(tài)氧鈉電池中的應(yīng)用

            5月9日的《Nano Letter》期刊再次報道了澤攸科技的原位測量系統(tǒng)在固態(tài)氧鈉電池研究中的應(yīng)用(DOI: 10.1021/acs.nanolett.8b00894)。在這一研究中,CuO納米線/O2作為電池的空氣陰極,Na作為電池的陽極。結(jié)合球差校正環(huán)境透射電鏡,研究者們原位觀測到了在通電之后固態(tài)氧鈉電池中發(fā)生的化學(xué)反應(yīng)。整個化學(xué)反應(yīng)過程分為兩個階段:(1)CuO轉(zhuǎn)化為CuO2,緊接著又轉(zhuǎn)化為

            應(yīng)用實例
            2025-04-02

            熱門分類

            光學(xué)儀器及設(shè)備

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