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快速多視角 Imaging Sphere：

對光源、顯示器和散射材料的完整角度性能信息進行經濟高效而又快速的單次采集測量

我們的 Imaging Spheres 產品基于新穎的光學結構，可一次性從半球的所有角度對目標器件或材料進行同時成像測量。對比通過傳統(tǒng)測角儀或錐光偏振儀測量解決方案，該系統(tǒng)能獲得更快、更完整且更準確的測量結果。 ProMetric成像色度計（或光度計）用于采集圖像數(shù)據(jù)，確保高精度測量。Imaging Sphere 可配置用于測量 LED 和其它小型光源的遠場光強分布、測量顯示器視角性能或測量表面散射光線的角分布（BRDF 和 BTDF）。對于 LED、FPD、顯示器配件和材料表面分析等研發(fā)及生產應用，Imaging Sphere 是理想的選擇。

典型應用：

顯示元件和光學薄膜的散射測量

油漆、粉末和拋光劑等表面處理劑的散射測量

LED 發(fā)光強度分布測量

小型光源發(fā)光強度分布測量

平板顯示器的視角性能測量

計算機模擬和渲染的散射特性

Imaging Sphere 有三種基本模型可供選擇，包含兩種甚至三種所用的測量類型配置系統(tǒng)的選項：

IS-LI & IS-LI-TE

光強分布高速測量系統(tǒng)可針對 LED 和其它小型光源，提供遠場發(fā)光強度、輻射強度、CIE 色坐標和相關色溫 (CCT) 等關于角度分布的全面測量。IS-LI 可提供測試儀無法提供的重要方向性信息。

IS-VA

視角性能系統(tǒng)可高速、全面地測量平板顯示器和顯示器配件的色度、亮度和對比度等項目隨視角的分布。IS-VA 在測量速度和系統(tǒng)成本方面可與錐光偏振儀和測角系統(tǒng)相媲美。

IS-SA

散射和外觀測量系統(tǒng)集成了一個聚焦光源，可直接照射到材料樣本上，以測量散射光。IS-SA 可準確、快速地描述各種反射表面和透光薄膜的表面粗糙度、缺陷和漫反射特性。比起測角儀系統(tǒng)，IS-SA 有更細小的角度分辨率和更快的測量速度，能生成詳細的 BRDF 和 BTDF，而且它在配置測量方面具有更大的靈活性。

Imaging Sphere 軟件

Imaging Sphere 配備強大易用的，基于 Imaging Sphere 軟件引擎的 IS 1.x 儀器控制和分析軟件。IS 1.x 軟件可簡化測量設置和控制，并可輕松訪問各種圖像分析功能，包括 2D 和 3D 圖、直方圖和圖像差分。軟件功能可以靠外部控件 ISEngine.Net (Framework 2.0) 來控制，因此用戶可以使用 Visual Studio 2005 或其它兼容 .Net 的編程語言構建自定義測試和分析序列。