中國粉體網(wǎng)訊 2020年7月3日，由中國粉體網(wǎng)聯(lián)合中國顆粒學(xué)會顆粒測試專委會、北京粉體技術(shù)協(xié)會共同舉辦的“粉體粒度表征及在線檢測技術(shù)網(wǎng)絡(luò)研討會”正在如火如荼的進(jìn)行。來自華南師范大學(xué)的韓鵬老師帶來了題為《動態(tài)光散射納米顆粒測試技術(shù)進(jìn)展》的精彩報(bào)告。
首先，韓鵬老師從基本原理入手，闡述了散射光信號的獲取、相關(guān)運(yùn)算方法及粒度反演的方法。其次，韓鵬老師向大家分享了動態(tài)光散射納米顆粒測試技術(shù)的一些關(guān)鍵概念，包括布朗運(yùn)動+散射光的干涉這一理論基礎(chǔ)，統(tǒng)計(jì)測量這一測量技術(shù)和反演算法的粒徑計(jì)算方法。
布朗運(yùn)動的原因是環(huán)境（液體、氣體）分子的熱運(yùn)動撞擊顆粒，它有隨機(jī)性、連續(xù)性及熱效應(yīng)性，隨機(jī)性即顆粒下一個位置不可預(yù)測，連續(xù)性即運(yùn)動不停止，熱效應(yīng)則是溫度升高，運(yùn)動加快，布朗運(yùn)動的影響因素是非球形顆粒：旋轉(zhuǎn)擴(kuò)散、平移擴(kuò)散；顆粒間相互作用：帶電、濃度過高；環(huán)境：界面、微量樣品池以及其他運(yùn)動。
散射光干涉的原因是不同顆粒的散射光之間的干涉，其特點(diǎn)是隨機(jī)性-散射光隨時(shí)間變化）、相關(guān)性-變化快慢與顆粒運(yùn)動速度有關(guān)和離散性-光子計(jì)數(shù)，其影響因素則是激光的穩(wěn)定性、散射光的強(qiáng)度、系統(tǒng)的相干性和環(huán)境光干擾。
韓鵬老師還講到，測量技術(shù)一定要保證樣本數(shù)足夠，因?yàn)檫@樣可以通過對足夠樣本數(shù)的信號統(tǒng)計(jì)進(jìn)行平均，測量技術(shù)-相干因子則受光源的相干性、儀器檢測結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及樣品特性的影響。韓鵬老師著重強(qiáng)調(diào)了粒徑計(jì)算-累積法的重要性，因?yàn)樗荌SO標(biāo)準(zhǔn)推薦的方法，具有簡單、穩(wěn)定的特點(diǎn)，此外他還介紹了非負(fù)最小二乘法、CONTIN、正則化、直方圖法、貝葉斯法以及遺傳算法等粒徑算法。
在報(bào)告的最后，韓鵬老師向大家介紹了后向測量、退偏振、多角度、低相干光源、在線測量以及圖像法的技術(shù)進(jìn)展，并闡述了它們各自的優(yōu)缺點(diǎn)及發(fā)展方向。
課程結(jié)束后，觀眾紛紛拋出疑問，韓鵬老師也一一耐心給予解答，此次研討會也受到了大家的廣泛好評。
（中國粉體網(wǎng)編輯整理/初末）
注：圖片非商業(yè)用途，存在侵權(quán)告知刪除
